Banc de test multicouche pour carte mère Mijing compatible iPhone X-17 Pro Max. Banc de test Mijing C17 C18 C20 C22 C23 C24 C25 C18 Pro C20 Pro C21 Pro C22 Pro C23 Pro C24 Pro C25 Pro pour le test fonctionnel de la couche intermédiaire des cartes mères des séries iPhone X/11/12/13/14/15/16/17. Testeur de châssis intermédiaire pour carte logique Mijing (couches supérieure et inférieure) compatible iPhone X, 11, 12, 13, 14, 15, 16 et 17.
Option:
1. Mijing C17 Appareil de test 3 en 1 pour la détection de la fonction de la carte mère de l'iPhone X/XS/XS MAX.
2. Mijing C18/C18Pro Appareil de test 3 en 1 pour la détection de la fonction de la carte mère de l'iPhone 11/11 Pro/11 Pro MAX.
3. Mijing C20/C20Pro Appareil de test 4 en 1 pour la détection de la fonction de la carte mère de l'iPhone 12/12 mini/12Pro/12 Pro MAX.
4. Mijing C21/C21Pro Appareil de test 4 en 1 pour la détection de la fonction de la carte mère de l'iPhone 13/13 mini/13Pro/13 Pro MAX.
5. Mijing C22/C22Pro texture de test en couches de la carte mère pour iPhone 14/14 Plus/14 Pro/14 Pro Max.
6. Mijing C23/C23Pro Appareil de test de carte mère pour iPhone 15/15 Plus/15 Pro/15 Pro Max.
7. Mijing C24 Dispositif de test de la couche intermédiaire de la carte mère pour la série iPhone 16.
8. Mijing C24PRO Dispositif de test de la couche intermédiaire de la carte mère pour la série iPhone 16.
9. Mijing C25/C25Pro Banc de test multicouche pour carte mère iPhone 17/Air/17Pro/17 Pro Max.
La différence entre les versions PRO et non-PRO réside dans la sonde. La version Pro utilise une sonde à ressort (pour une meilleure qualité et une plus grande précision), tandis que la version non-Pro utilise une sonde standard.
Fonctionnalité:
1. Le support de test multicouche pour carte mère Mijing prend en charge la détection des fonctions de la carte logique des iPhone 11/12/13/14/15/16/17 Pro Max.
2. Il est doté de sondes à ressort plaquées or personnalisées et d'un usinage CNC de haute précision pour un alignement précis des points de soudure.
3. Le support est doté d'une conception creuse à l'arrière, offrant un espace de test réservé, permettant de tester toutes les fonctions sans collage. Cela simplifie et optimise les tests de la carte mère.
4. Facile à utiliser, connectez les cartes mères supérieure et inférieure pour tester/réparer, évitez les problèmes après l'installation, augmentez la vitesse de maintenance.
5. Vérifiez à l'avance pour éviter de démonter en double et de casser la carte mère Petite taille, facile à transporter.
Processus opérationnel :
1. Décomposition de la couche intermédiaire de l'iPhone X-17 Pro Max équipée simplement du dispositif de test.
2. Installation : placez la carte principale inférieure, placez le tableau d'affichage, mais la carte supérieure à l'intérieur, puis couvrez le support de test.
3. La première façon de connecter la ligne d'écran, le démarrage, le cordon d'alimentation ou le test de batterie réussit ou non.
4. La deuxième méthode consiste à connecter la fiche d'extrémité sur la base de la première méthode pour mettre en œuvre la fonction de brosse.
